Мини-пресс для получения тонких слоев вещества на стальных зеркальных пластинах
Предназначен для пробоподготовки при исследованиях образцов с помощью ИК микроскопа и приставок зеркального отражения.
Позволяет придавать форму тонкого слоя (до нескольких микрон) различным объектам: полимерным фрагментам, микрочастицам ЛКП, порошкообразным веществам, волокнам и т.п.
Полученные тонкие слои на зеркальных пластинах из легированной стали исследуются методом двойного пропускания – излучение, прошедшее сквозь слой вещества, отражается от поверхности пластины и вновь проходит через вещество.
Зарегистрированные таким методом спектры полностью идентичны спектрам пропускания, полученным, например, после прессования веществ с KBr
Позволяет придавать форму тонкого слоя (до нескольких микрон) различным объектам: полимерным фрагментам, микрочастицам ЛКП, порошкообразным веществам, волокнам и т.п.
Полученные тонкие слои на зеркальных пластинах из легированной стали исследуются методом двойного пропускания – излучение, прошедшее сквозь слой вещества, отражается от поверхности пластины и вновь проходит через вещество.
Зарегистрированные таким методом спектры полностью идентичны спектрам пропускания, полученным, например, после прессования веществ с KBr
Достоинства этого способа пробоподготовки:
- быстрота
- нет необходимости в использовании гидравлических и ручных прессов и пресс-форм, ступок для растирания и т.п.,
- нет необходимости в использовании высокочистого KBr или вазелинового масла,
- образец не утрачивается и, при необходимости, может быть исследован другими методами,
- при использовании ИК микроскопа можно “просканировать” полученный тонкий слой для выбора наиболее информативного участка, а также, если слой неоднородный по составу, получить спектральные характеристики его составляющих.