Оптическая приставка отражения ПО-15В
C верхним расположением образца (угол падения лучей 15°)
- Приставка укомплектована набором сменных вкладышей-диафрагм, что позволяет, исследовать объекты малых размеров.
- Можно исследовать образцы в виде тонкого слоя на зеркальной стальной пластине, полученного при помощи мини-пресса, при этом излучение дважды проходит через слой вещества, отражаясь от зеркальной поверхности. Зеркальные пластины и мини-пресс приобретаются отдельно.
- Не применяется: для исследования жидких веществ, образцов с интенсивным диффузным рассеянием отраженного излучения.
Приставка предназначена для исследования различных типов твердых образцов, в том числе, оптических и полупроводниковых материалов, тонких пленок на поверхности, кристаллов, драгоценных камней и других объектов произвольной формы. Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз.
Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала | не менее 50 |
Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров | 16 |
Время регистрации спектра при 16 сканах (разрешение 4 см-1 ), сек | 20 |
Минимальные размеры твердого образца, мм | 1 × 1 |
Диаметр пятна фокусировки, мм | 3 |
Угол падения излучения (центральный луч) на образец, o | 15 |
Габаритные размеры, мм | 110 × 100 × 100 |
Масса, кг | 0,8 |